年度收官│創(chuàng)銳光譜兩項工業(yè)產品獲獎

更新時間：2024-12-19

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　　2024年12月12日，第三代半導體產業(yè)知名媒體與研究機構——“行家說三代半”主辦的“2024行家極光獎”頒獎典禮在深圳隆重舉行。本次年會聚集了包括英飛凌、羅姆半導體、天科合達、天岳先進、南沙晶圓、意法半導體等多個行業(yè)知名廠商。創(chuàng)銳光譜CEO陳博士在本次年會上分享了《SiC位錯無損檢測技術助力缺陷演化及追蹤研究》的研究成果，并憑借其卓越的技術實力以及無損位錯檢測技術的創(chuàng)新能力，獲得2024年度優(yōu)秀產品獎。“年度優(yōu)秀產品”聚焦國內SiC&GaN企業(yè)的多項研發(fā)成果，涉及產業(yè)鏈上下游各個領域，是我國半導體產業(yè)的重要基礎。它們代表了我國第三代半導體產業(yè)的統(tǒng)籌布局和規(guī)劃發(fā)展，是由點到線、由線到面、由面到體的有力見證。

　　在鈣鈦礦檢測領域，創(chuàng)銳光譜同樣拿出了一份亮眼的答卷。

　　在12月17日剛剛閉幕的第七屆全球鈣鈦礦與疊層電池(長三角)產業(yè)化論壇上，創(chuàng)銳光譜項目研發(fā)總監(jiān)在大會上發(fā)表《綜合性光伏面板檢測技術與應用》演講，分享了創(chuàng)銳光譜在大幅面鈣鈦礦光伏面板檢測上的突破性進展，并經過組委會評選獲得2024年度“最具影響力鈣鈦礦檢測設備企業(yè)”。

　　SiC襯底位錯無損檢測系統(tǒng)和鈣鈦礦光伏面板綜合和在線檢測系統(tǒng)是創(chuàng)銳光譜基于時間分辨光譜技術在泛半導體檢測領域的創(chuàng)新和突破，對相關行業(yè)產品質量提升和評估及企業(yè)降本增效具有著重要意義。這些榮譽不僅是對創(chuàng)銳過去努力的肯定，更是對未來發(fā)展的有力支持。創(chuàng)銳光譜將持續(xù)創(chuàng)新突破，為我國半導體產業(yè)和泛半導體檢測技術發(fā)展貢獻更多力量。